Udbulningen af lithiumbatterier kan skyldes følgende årsager:
1. Lithium batteri bule forårsaget af overopladning
Overopladning vil få alle lithium-ionerne i det positive elektrodemateriale til at løbe ind i det negative elektrodemateriale, hvilket får den positive elektrodes originale fulde gitter til at deformeres og kollapse. I denne proces vil lithium-ionerne i den negative elektrode blive flere og flere, og den for store ophobning vil få lithium-atomerne til at gro stubbe. Krystallisering, hvilket får batteriet til at bule. Dette er også en væsentlig årsag til faldet i kraften af lithium batteripakker.
2. Bump forårsaget af overudladning
SEI-filmen vil have en beskyttende effekt på det negative elektrodemateriale, hvilket gør materialestrukturen ikke let at kollapse og kan øge elektrodematerialets cykluslevetid. Der vil være en lille ændring i SEI-filmen under opladning og afladningsprocessen, primært fordi nogle organiske stoffer vil gennemgå reversible ændringer. Efter at batteriet er overafladet, er SEI-filmen reversibelt beskadiget, og SEI'en, der beskytter det negative elektrodemateriale, ødelægges, hvilket får det negative elektrodemateriale til at kollapse, hvorved der dannes et lithiumbatteri-udbulende fænomen. Hvis den anvendte oplader ikke opfylder kravene, kan det få batteriet til at bule eller forårsage en sikkerhedsulykke eller endda eksplodere.
3. Fremstillingsproces problemer
Ved fremstilling af lithium batteripakker er elektrodebelægningen ujævn, og produktionsprocessen er relativt ru, hvilket også kan forårsage, at lithiumbatteriet buler.
Derfor skal lithium-batterier til mobiltelefoner testes, efter de er fremstillet, herunder udseendetest, sikkerhedstest, pålidelighedstest og elektrokemisk test. For at forbedre testeffektiviteten af lithiumbatterier og sikre testens stabilitet, kan batteritestmodulet - splintmikronålemodul bruges som forbindelsesmedium til mobiltelefonlithiumbatteritest. Det giver hovedsageligt højstrømstransmission og signalforbindelse. Oprethold stabil overstrømskapacitet inden for intervallet -50A, pålidelig forbindelse og stabil ydeevne.
